光學特性檢測系統(tǒng)的特性及結(jié)果分析

掃頻測試系統(tǒng)

結(jié)合可調(diào)諧激光器（TSL系列）、功率計（MPM）、偏振控制單元（PCU-110）和定制軟件，對研發(fā)和生產(chǎn)線上的IL/WDL/PDL進行高效測量和評估。您可以做到。

多站測量

通過將掃描測試系統(tǒng)與多分支單元相結(jié)合，可以進一步提高檢查和評估的效率。

概述

掃頻測試系統(tǒng)結(jié)合了可調(diào)諧激光器（TSL 系列）、多端口功率計（MPM 系列）、偏振控制單元（PCU-110）和專用軟件，是光學器件研發(fā)和生產(chǎn)現(xiàn)場的理想選擇。它是一種評估工具。IL/WDL/PDL 可以通過同時獲得通過 DUT 傳輸?shù)墓夤β?，同時實時參考可調(diào)諧激光器的輸出功率來進行高精度測量。系統(tǒng)采用穆勒矩陣法計算 PDL。

測量 超過 80 dB 的高動態(tài)范圍測量

Thorlabs 的TSL 系列可調(diào)諧激光器采用創(chuàng)新的腔體設(shè)計，可降低光學 ASE 噪聲，實現(xiàn)非常高的信噪比和高光輸出功率。因此，該系統(tǒng)可以在多個端口同時評估具有高動態(tài)范圍特性的光學元件的特性。
下圖分別顯示了 CWDM 濾波器和陷波濾波器（例如 FBG）的測量數(shù)據(jù)。

由于TSL 系列標配波長監(jiān)視器，因此可以高精度測量光學元件。
下圖顯示了乙炔（12C2H2）氣體在測量波長處的吸收線，可以看出以高的測量精度進行了測量。

該系統(tǒng)可以測量具有高波長分辨率的 WDL 和 PDL，不僅適用于 WDM 光學元件，還適用于窄線寬濾波器。
圖中顯示了超高 Q 電容器件的測量，可以看出可以在 0.1 pm 或更小的分辨率下進行測量。

在多站測量系統(tǒng)中，可調(diào)諧激光器、偏振控制器和多分支單元充當服務(wù)器，光和觸發(fā)信號從中分離并發(fā)送到每個站。每個站僅由一個功率計和一臺 PC 組成。

在測量過程中，服務(wù)器的可調(diào)諧激光連續(xù)掃過規(guī)定范圍。因此，每個站都可以在任何時間獨立于其他站進行測量。

這樣，該系統(tǒng)可以在保持高精度特性的同時，進一步提高檢測和評估的效率。

• 可調(diào)諧激光器 TSL-570

• 偏光控制器 PCU-110

• 多分支單元 MBU-100

• 光功率計 MPM-210H